021-5027 6825
欢迎来到理想晶延半导体设备(上海)股份有限公司网站!
红外条式产品检测系统
    发布时间: 2021-11-06 20:16    

特色


  • 用于检测PCB/条式载体上die的内部结构,自动视觉料匣步进上下料 

  • 多重缺陷标准

        金刚线切割:Chip,Crack(Internal)

        Plasma/激光切割:Corrosion,Chip In,Chip Out( Internal )

        选项:尺寸、方向、有/无

  • 支持多种模式:取样、完全模式、电子地图 

  • 支持多种die尺寸:1.6mm*1.6mm(红外模式下)




产品中心